武汉楚兴申请氮化钛薄膜有关专利,能提高整体导电性

本文源自:金融界

金融界2025年4月9日消息,国家知识产权局信息显示,武汉楚兴技术有限公司申请一项名为“一种氮化钛薄膜的制备方法、氮化钛薄膜及半导体结构”的专利,公开号 CN 119774559 A,申请日期为2023年10月。

专利摘要显示,本申请提供一种氮化钛薄膜的制备方法、氮化钛薄膜及半导体结构,向反应腔室通入四二甲基胺钛,四二甲基胺钛吸附在衬底表面,衬底位于反应腔室内;对四二甲基胺钛进行加热,分解得到二甲胺气体和位于衬底表面的第一氮化钛薄膜;向反应腔室通入金属盐,金属盐与二甲胺反应,得到位于衬底表面的第二氮化钛薄膜;第二氮化钛薄膜为具有金属掺杂的第一氮化钛薄膜。利用四二甲基胺钛和金属盐制备得到具有金属掺杂的氮化钛薄膜,操作步骤简单,成本较低,而且通过掺杂金属能够降低氮化钛薄膜的本征电阻率,提高氮化钛薄膜的导电性,进而提高钨栓的整体导电性。

天眼查资料显示,武汉楚兴技术有限公司,成立于2022年,位于武汉市,是一家以从事计算机、通信和其他电子设备制造业为主的企业。企业注册资本1666700万人民币,实缴资本1000000万人民币。通过天眼查大数据分析,武汉楚兴技术有限公司参与招投标项目33次,财产线索方面有商标信息11条,专利信息65条,此外企业还拥有行政许可275个。

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