季丰最新引进MicReDIndustrial Power Tester 1800A功率循环测试设备，新设备可以测K系数和热阻，新机台的能力完全满足大部分的测试标准，有需要的客户可以联系我们的销售。
新引进的设备的设备能力，符合标准如下:
设备能力
适用于以下测试标准
IEC60749-34
AQG324
PWT介绍
IGBT模块的工作寿命取决于所受到的热应力，IGBT模块产生的热应力，主要源自内部的温度变化,由于电力电子装置输出功率的变化导致IGBT模块的损耗发生相应变化，损耗的变化最终引起器件结温产生波动.IGBT模块属于多层封装结构，各层封装材料的热膨胀系数不同。温度的波动会引起热膨胀系数不同的各层材料之间的热失配，从而产生热应力，其中热应力集中的部位包括：键合线，芯片焊层，底板焊层，随着热应力不断循环累积，首先会使键合线和焊接层产生裂纹，最终引发键合线脱落或焊层大面积分层导致模块失效。
GIGA FORCE
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